Le micrologiciel du lecteur exécute les tests.
Les détails des tests peuvent être lus par exemple sur www.t13.org/Documents/UploadedDocuments/technical/e01137r0.pdf, qui résume ainsi les éléments des tests courts et longs:
un segment électrique dans lequel le variateur teste sa propre électronique. Les tests particuliers de ce segment sont spécifiques au fournisseur, mais à titre d'exemples: ce segment peut inclure des tests comme un test de mémoire tampon, un test de circuits de lecture / écriture et / ou un test des éléments de tête de lecture / écriture.
un segment de recherche / asservissement dans lequel le variateur teste sa capacité à trouver et asservir sur des pistes de données. La méthodologie particulière utilisée dans ce test est également spécifique au fournisseur.
un segment de lecture / vérification dans lequel le lecteur effectue une lecture de lecture d'une certaine partie de la surface du disque. La quantité et l'emplacement de la surface numérisée dépendent de la contrainte de temps de réalisation et sont spécifiques au fournisseur.
Les critères de l'autotest étendu sont les mêmes que ceux de l'autotest court, à deux exceptions près: le segment (3) de l'autotest étendu doit être une analyse de lecture / vérification de toutes les zones de données utilisateur, et il n'y a pas délai maximum pour que le variateur effectue le test.
Il est sûr d'effectuer des tests non destructifs lorsque le système d'exploitation est en cours d'exécution, bien qu'un certain impact sur les performances soit probable. Comme le smartctldit la page de manuel pour les deux -t shortet -t long,
Cette commande peut être donnée en fonctionnement normal du système (sauf si elle est exécutée en mode captif)
Si vous appelez le mode captif avec -C, smartctlsuppose que le lecteur peut être occupé jusqu'à l'indisponibilité. Cela ne doit pas être effectué sur un lecteur que le système d'exploitation utilise.
Comme le suggère également la page de manuel, les tests hors ligne (ce qui signifie simplement des tests d'arrière-plan périodiques) ne sont pas fiables et n'ont jamais officiellement fait partie des spécifications ATA. Je lance le mien depuis cron, à la place; de cette façon, je sais quand ils devraient se produire, et je peux l'arrêter si j'en ai besoin.
- Les résultats peuvent être vus dans la
smartctlsortie. En voici un avec un test en cours:
[root @ risby images] # smartctl -a / dev / sdb
smartctl 6.4 2015-06-04 r4109 [x86_64-linux-4.1.6-201.fc22.x86_64] (version locale)
Copyright (C) 2002-15, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
[...]
Numéro 1 de révision de la structure du journal d'auto-test SMART
Num Test_Description Status Remaining LifeTime (heures) LBA_of_first_error
# 1 Extended offline Terminé sans erreur 00% 20567 -
# 2 Extended offline Terminé sans erreur 00% 486 -
Numéro de révision de la structure de données du journal d'auto-test sélectif SMART 0
Remarque: le numéro de révision non 1 implique qu'aucun auto-test sélectif n'a jamais été exécuté
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Self_test_in_progress [90% restant] (0-65535)
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Notez deux précédents tests terminés (à 486 et 20567 heures de mise sous tension, respectivement) et le test en cours (terminé à 10%).
MadHatter soutient Monica
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Les implémentations SMART dépendent du fabricant, des journaux parfois assez étendus sont disponibles via la
smart -acommande. Voici ce que j'obtiens sur l'un de mes disques à chiffrement automatique d' Hitachi :Ce livre blanc éclaire les codes d'erreur apparaissant dans le journal. Les abréviations d'erreur courantes sont:
Dans mon cas, l'erreur IDNF (ID non trouvée) peut être attribuée à un incident lorsque le disque a été branché via un adaptateur USB-à-SATA et s'est avéré être sous-alimenté, ce qui l'a empêché de rechercher correctement.
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